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自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x
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時(shí)代覆層測(cè)厚儀(原TT210)

時(shí)代覆層測(cè)厚儀(原TT210)
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  • 產(chǎn)品展商:北京時(shí)代
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簡(jiǎn)單介紹

時(shí)代覆層測(cè)厚儀(原TT210),寧波測(cè)厚儀 涂層測(cè)厚儀 時(shí)代測(cè)厚儀TIME2510,相關(guān)測(cè)厚儀有TIME2500,TIME2501,主要是測(cè)量產(chǎn)品表面鍍層厚度,測(cè)量的精準(zhǔn)度取決于控頭的質(zhì)量,時(shí)代覆層測(cè)厚儀(原TT210)TIME2510是磁性、渦流一體的便攜式覆層測(cè)厚儀,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。

產(chǎn)品描述

時(shí)代覆層測(cè)厚儀(原TT210)TIME2510


一、便攜式覆層測(cè)厚儀,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。主要用在各種電鍍行業(yè),檢測(cè)產(chǎn)品表面的涂層厚度也是品質(zhì)管理的一種手段。TIME2510測(cè)厚儀是可以用于基材是磁性或者非磁性的產(chǎn)品。可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。

二、時(shí)代覆層測(cè)厚儀(原TT210)TIME2510本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn): GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

三、時(shí)代覆層測(cè)厚儀(原TT210)TIME2510功能特點(diǎn)

  • 時(shí)代涂層測(cè)厚儀  采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。 
  • 全中文菜單自動(dòng)識(shí)別金屬底材  
  • 自動(dòng)選擇測(cè)量方法--磁性法或電渦流法 
  • 兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE) 
  • 兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) 
  • 五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、較大值(MAX)、較小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV) 
  • 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)
  • 存貯功能:可存貯500 個(gè)測(cè)量值
  • 刪除功能:對(duì)測(cè)量的單個(gè)或所有數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除
  • 可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警
  • 電源欠壓指示
  • 操作過程有蜂鳴聲提示(單次測(cè)量方式)
  • 錯(cuò)誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示
  • 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式
  • 采用一體化測(cè)頭
四、時(shí)代覆層測(cè)厚儀(原TT210)TIME2510技術(shù)指標(biāo)(參照F1和N1指標(biāo)對(duì)應(yīng))

測(cè)頭型號(hào)   

F400  

F1

F1/90

F10

N1

CN02

工作原理

磁感應(yīng)

電渦流

測(cè)量范圍(μm

0-400

0-1250

0-10000

0-1250(銅上鍍鉻0-40μm)

10-200

低限分辨率(μm

0.1

0.1

10

0.1

1

示值誤差  

一點(diǎn)校準(zhǔn)(μm

±[3%H+1]

±[3%H+10]

±[3%H+1.5]

±[3%H+1]

兩點(diǎn)校準(zhǔn)(μm

±[(1~3) %H+0.7]

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+10]

±[(1~3)%H+1.5]

-

測(cè)量條件

較小曲率半徑(mm)

1

1.5

平直

10

3

平直

基體較小面積的直徑(mm)

?3

?7

?7

?40

?5

?7

較小臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.5

2

0.3

無限制

五、附涂層測(cè)厚儀的探頭選型表(本表適用于北京時(shí)代品牌的測(cè)厚儀)

覆蓋層基體

有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等)

非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

覆蓋層厚度不超過100μm

覆蓋層厚度超過100μm

覆蓋層厚度不超過100μm

覆蓋層厚度超過100μm

如鐵、鋼等磁性金屬

被測(cè)面積的直徑大于30mm

F400型測(cè)頭0-400μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F10型測(cè)頭0-10mm

F400型測(cè)頭0-400μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F10型測(cè)頭0-10mm

被測(cè)面積的直徑小于30mm

F400型測(cè)頭0-400μm

F400型測(cè)頭0-400μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

F400型測(cè)頭0-400μm

F400型測(cè)頭0-400μm

F1型測(cè)頭0-1250μm

如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

被測(cè)面積的直徑大于5mm

N1型測(cè)頭0-1250μm

僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0-40μm

塑料、印刷線路非金屬基體

被測(cè)面積的直徑大于7mm

-

-

CN02型測(cè)頭10-200μm

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