激光測徑儀分類
測徑儀(激光測徑儀)大至分激光掃描測徑儀，CCD投影測徑儀，激光衍射測徑儀，其中前兩者都屬光學的幾何原理，后者為利用光學的波動原理。
CCD投影測量徑儀，由于電機速度畢竟有限，而且掃描的平行光帶不太容易保證，再加上平行光管與CCD的技術(shù)的發(fā)展，很多企業(yè)開始采用CCD成像法測量直徑，在國內(nèi)以上海歐勒在這方面做得較早，其光源采用波長較長的紅外光，抗干擾較強，由于少了許多機械件，所以設(shè)備較穩(wěn)定可靠，但CCD成像受相素的制約，在精度上不太容易拓展，特別是大直徑的物體測量，但又不能太細，太細會有掃描測徑儀相同的問題。
激光衍射測徑儀(激光測徑儀)，利用衍射原理測量細線的直徑，此技術(shù)與前兩項剛好相反，只適用于測小直徑的細絲，而且越細越好，因為此技術(shù)是利用衍射原理，理論只有當波長與被測物相近或大于被測長物時衍射*明顯。據(jù)網(wǎng)上查詢，輝煌在這方面處于**地位，其產(chǎn)品在測量5um到300um的細絲是沒問題的，根據(jù)其廣告宣傳*大可以測量到500um。其精度由于限于標準樣件和測試環(huán)境的影響，只有0.2um左右，但其重復精度相當高，這是細絲測徑儀的一個發(fā)展方向。
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