PDA時(shí)間分解測(cè)光法
標(biāo)準(zhǔn)的配備島津**的PDA測(cè)光法，對(duì)各種各樣的分析都可發(fā)揮其優(yōu)勢(shì)
PDA測(cè)光法（脈沖分布測(cè)光法）
過(guò)去的測(cè)光法對(duì)放電所得的光電流進(jìn)行一定時(shí)間的單純積分，而PDA法師對(duì)每個(gè)放電脈沖所得 的光電流進(jìn)行積分，將每個(gè)積分值的含義進(jìn)行解析，進(jìn)行*佳的處理，求得含量。PDA測(cè)光法除狀態(tài)分析外，可進(jìn)行過(guò)去不能進(jìn)行的多種數(shù)據(jù)處理，因此可大幅度提高多種元素的分析精度。
時(shí)間分解測(cè)光法
不同光譜線(xiàn)取得*高的測(cè)定靈敏度的放電條件也不同。
縮短分析時(shí)間（一次分析10多秒）
采用復(fù)合放電和PDA時(shí)間分解測(cè)光法只需十多秒種即可取得分析值（1次分析時(shí)）
可控制各放電脈沖的數(shù)據(jù)，除去異常放電脈沖時(shí)的測(cè)光值，提高精度。
過(guò)去法測(cè)定光強(qiáng)度的全積分值，而PDA-7000系列求出光強(qiáng)度的頻度數(shù)分布進(jìn)行系統(tǒng)處理，因此可不受異常放電時(shí)光強(qiáng)度的影響進(jìn)行測(cè)定
提高金屬中容易形成夾雜物的非固溶元素的精度
與過(guò)去法相比，提供重新精度2～3倍（本公司比）
狀態(tài)分析（酸溶鋁的定量）
著眼于酸溶鋁（S01-A1）和酸不溶鋁（insol-AL）的發(fā)光強(qiáng)度的差異，采用統(tǒng)計(jì)處理，只需11秒即可進(jìn)行酸溶鋁的定量
降低試樣缺陷（裂紋、針孔）對(duì)分析值得影響
使用每個(gè)放電脈沖的內(nèi)標(biāo)監(jiān)控法監(jiān)視內(nèi)標(biāo)元素的光強(qiáng)度，只選擇在設(shè)定范圍內(nèi)時(shí)所得到的測(cè)定元素的光強(qiáng)度。將火花擊中在試樣制取時(shí)產(chǎn)生的缺陷部分的數(shù)據(jù)，通過(guò)統(tǒng)計(jì)處理而除去，可提高重新性。
